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一种新型芯片测试头申请（专利权）人：四川芯联发电子有限公司 摘要 本实用新型公开了一种新型芯片测试头，它包括横梁（1）、测试头主体（2）、绝缘筒（3）和电池（4），横梁（1）的底部固设有支架（5），支架（5）上设置有垂向设置的导轨（6），导轨（6）上安装有滑块（7），测试头主体（2）设置于滑块（7）上，测试头主体（2）上设置有上铜条（8），绝缘筒（3）设置于测试头主体（2）的正下方，绝缘筒（3）的上下端部均设置有开口，下开口内经铰链座（14）铰接有塑料板（9），塑料板（9）内设置有下铜条（10），下铜条（10）贯穿塑料板（9）设置，所述电池（4）的正极经导线A与下铜条（10）固连。本实用新型的有益效果是：结构紧凑、提高测试效率、降低测试成本。 |